Рентгенография кристаллов
термин
[X-ray diffractometry] – метод эксперимент. исследования в-ва на атомном уровне и диагностики его фазового состояния, использующий явление дифракции рентгеновского излучения на к-лах. Рентгенографируют моно- и поликристаллы с регистрацией на фотопленку ( дебаеграмма ) и с помощью счетчиков квантов (см. Рентгеновский дифрактометр ). С середины XX в. активно развивается Р. к. при разл. давлении ( барорентгенография ) и особенно – температуре ( терморентгенография ). Последняя применяется (Филатов С.К., 1990) для изучения низкосимметричных породообразующих м-лов (полевые шпаты, пироксены, амфиболы, слоистые силикаты и т. п.); измерения теплового расширения к-ла, в т. ч. его анизотропии, для определения гл. значений тензора термич. деформаций и температур. коэф. объемного расширения в-ва, а также для исследования к-лов в контакте с жидкостью как метод изучения in situ разнообразных термич. переходов (см. Термокристаллохимия ).
Источник:
Геологический словарь ВСЕГЕИ (3-е изд.)
Геологический словарь : в 3 т. / гл. ред. О. В. Петров. — 3-е изд., перераб. и доп. — СПб. : ВСЕГЕИ, 2010—2017. — ISBN 978-5-93761-169-7.