Территория · геологический граф знаний

[ в честь нем. физика В. К. Рентгена; X-ray diffraction analysis] – совокупность методов определения и исследования кристаллич. структуры в-ва, основанных на явлении дифракции рентгеновских лучей на трехмерной кристаллич. решетке. Р. а. позволяет определять структурные параметры элементарной ячейки, а также устанавливать гр. симметрии к-ла. Метод заключается в определении углов отражения и интенсивности рассеянного в-вом рентгеновского или синхротронного излучения с длиной волны, соизмеримой с размерами атомов (~ 1 Å), и последующем статистич. анализе интенсивностей дифракцион. максимумов. Эксперимент. интенсивности измеряют на рентгеновском дифрактометре . Уточняют структуры путем сопоставления методом наименьших квадратов измеренных и вычисленных интенсивностей, получая для каждого независимого атома j координаты (xyz) j , параметры (B ik ) j эллипсоидов тепловых колебаний и степени заселенности позиций P j . Различают несколько методов Р. а.: метод Лауэ , применяемый для монокристаллов, Метод Дебая – Шеррера ( метод порошка ), используемый для исследования поликристаллов и их смесей, а также рентгенгониометрические методы .